該系列的 Opticline C 軸類光學(xué)測量儀可提供 1 μm 以上量具能力。可以選用不同的配置等級，例如高精度 C 軸或者多傳感器，針對您的需求調(diào)整性能。Opticline C 軸類光學(xué)測量系統(tǒng)具有高靈活性，同時還有高精度和穩(wěn)定性。

pticline C 軸類光學(xué)測量儀系列的亮點

– 測量瞬間完成，非常迅速；測量精密，精度等級達到 μm 級。

– 測量時攝像頭雙向探測，可探測的工件直徑可達 80 mm。

– 光學(xué)測量系統(tǒng)具有縮放功能，所以在測量最大直徑為140 mm 的工件時，分辨率和質(zhì)量也絲毫不受損失。

– 頭架和尾架的設(shè)計特別，工件更換迅速，精度高。

– 工件全自動定位，簡單方便。

– 數(shù)據(jù)傳輸不僅迅速，而且實時處理。

– 具有自監(jiān)控功能，既適用于精測室，也適用于生產(chǎn)現(xiàn)場。

– 低維護，強大的測量系統(tǒng)衍生產(chǎn)品和選配項目。

– 觸覺觸覺系統(tǒng)T3D或TSP，用于測量額外的長度和形狀檢查功能。

– 具備形狀測量能力和旋轉(zhuǎn)測量精度的高精密頭架。

– 電腦主機可與設(shè)備一體式集成。

– 保證測量結(jié)果不受環(huán)境負面影響的卷簾門。

– 保證更高柔性以適合更多工件測量的氣動夾緊系統(tǒng)。

– 更適合上下料高度并可提供更多存放位置的工作臺架。